看了又看
-
￥4500.00 ￥9000.00
-
￥7500.00 ￥15000.00
-
￥4200.00 ￥8400.00
-
￥4800.00 ￥9600.00
-
￥7800.00 ￥15600.00
-
￥5248.00 ￥10496.00
-
￥7500.00 ￥15000.00
-
￥199.00 ￥398.00
-
￥500.00 ￥1000.00
-
￥50.00 ￥100.00
产品特点
JEOL JSM-7001F 是一款高性能场发射扫描电子显微镜，具备以下核心特点：
- 高分辨率成像：采用场发射电子枪技术，可实现纳米级别的超高分辨率表面观察，清晰呈现材料微观形貌。
- 多功能分析能力：集成牛津波普和能谱分析系统，支持对样品的元素组成及分布进行快速检测，实现形貌观察与成分分析的一体化。
- 稳定可靠设计：设备机械结构精密，配备双显示器及专业控制操作台，操作便捷，运行稳定，适用于长期连续实验。
应用场景
广泛应用于材料科学、生命科学、半导体工业、地质矿物等领域：
- 材料表面形貌表征、纳米结构观察
- 金属、陶瓷、高分子材料的微观缺陷分析
- 生物样品（如细胞、组织）的超微结构研究
- 半导体芯片的失效分析与质量检测
- 地质样品的矿物组成及微区成分分析
技术参数概述
（注：具体参数以设备实际配置为准）
- 电子源类型：场发射电子枪
- 加速电压范围：覆盖常规分析所需电压区间
- 分辨率：高真空模式下可达纳米级
- 配备能谱仪（EDS）：支持元素定性与定量分析
-
￥500.00 ￥1000.00
-
￥666.00 ￥1332.00
-
￥5800.00 ￥11600.00
-
￥245.00 ￥490.00
-
￥35.00 ￥70.00
-
￥3000.00 ￥6000.00
-
￥20.00 ￥40.00
-
￥450.00 ￥900.00
-
￥6666.00 ￥13332.00
-
￥7500.00 ￥15000.00
-
￥200.00 ￥400.00
-
￥199.00 ￥398.00
-
￥1111.00 ￥2222.00
-
￥50.00 ￥100.00
-
￥2800.00 ￥5600.00
-
￥1800.00 ￥3600.00
没有评价数据