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布鲁克 C79298-A3244-A20 衍射测角仪产品说明
布鲁克AXS C79298-A3244-A20衍射测角仪是一款高精度的科学分析仪器，专为材料结构分析、晶体学研究等领域设计，具备卓越的角度测量精度和稳定的机械结构，可实现对样品衍射信号的精确采集与分析。
产品特点
- 精密机械结构：采用圆形旋转平台配合多轴调节导轨，支持样品在水平及垂直方向的精确位移与角度调整，确保测量过程的稳定性与重复性。
- 高精度角度控制：底部集成刻度盘及精密驱动系统，角度调节分辨率高，满足微小角度变化的测量需求。
- 模块化设计：光学检测组件与机械调节部分独立模块化，便于维护与升级，可根据实验需求搭配不同检测模块。
应用场景
- 材料科学领域：用于分析金属、陶瓷、半导体等材料的晶体结构、晶格参数及相变行为。
- 化学与化工行业：研究催化剂、高分子材料的微观结构与性能关系。
- 科研机构与高校：适用于物理、化学、地质等学科的实验室基础研究与教学实验。
技术参数（基于同类产品参考）
- 角度测量范围：通常覆盖0°-180°（具体以实际型号为准）
- 角度分辨率：可达0.001°级（高精度型号）
- 样品台尺寸：适配标准样品尺寸，支持定制化样品夹具
该衍射测角仪凭借布鲁克在精密仪器制造领域的技术积累，为用户提供可靠的结构分析解决方案，是科研与工业质量控制中的关键设备。
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