产品概述
HIOKI 3511-50 LCR HITESTER是一款高精度的电子元件参数测量仪器,由日本日置(HIOKI)公司生产,专为工业电子领域设计,可快速准确测量电感(L)、电容(C)、电阻(R)等关键参数,同时支持阻抗(Z)、相位角(θ)、品质因数(Q)等辅助参数测试,广泛应用于电子元件生产检测、电路设计调试及科研实验等场景。
产品特点
- 多参数测量:支持主参数Z(Ω)、C(F)、L(H)、R(Ω)与子参数θ(°)、Q同步测量,满足不同元件的测试需求。
- 灵活的测试条件:提供120Hz、1kHz两种测试频率,1V、500mV、50mV三档测试电平,以及FAST(快速)、NORM(标准)、SLOW(慢速)三种测量速度模式,适配不同元件特性。
- 直观显示与操作:配备双LED显示屏,主参数与子参数同时清晰显示;面板按键布局合理,支持参数设置、比较功能(COMP)、数据保持(HOLD)等操作,操作便捷。
- 稳定性与可靠性:全原装无修,功能正常,采用高精度测量电路设计,确保长期稳定运行,适合工业环境下的连续使用。
技术参数
- 测量参数:Z(Ω), C(F), L(H), R(Ω), θ(°), Q
- 测试频率:120Hz, 1kHz
- 测试电平:1V, 500mV, 50mV
- 测量速度:FAST, NORM, SLOW
- 显示方式:双4位LED数码管(主参数)+ 4位LED数码管(子参数)
- 接口配置:正面设有GUARD、L CUR、L POT、H POT、H CUR等测试接口,支持标准元件连接。
应用场景
- 电子元件生产线:对电容、电感、电阻等被动元件进行出厂前参数检测,确保产品质量。
- 电路设计与维修:在电子设备研发或故障排查中,快速测量元件实际参数,验证电路设计合理性。
- 科研实验:高校实验室、电子研究所等场所用于材料特性分析、元件性能研究等实验项目。
- 质量检测部门:作为计量工具,对采购的电子元件进行入厂检验,保障下游生产环节的可靠性。
注意事项
使用前请确认仪器供电正常,测试前应进行开路(OPEN)、短路(SHORT)校准,避免外部干扰影响测量精度;测试时待测元件引脚需清洁,确保与测试接口接触良好。仪器外观成色以实物拍摄为准,实价不包邮,适合对精度和稳定性有较高要求的用户选购。
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